Die kompakten Laser-Mikrometer optoCONTROL 1200/1201 von Micro-Epsilon Eltrotec eignen sich für Messungen mit einer hohen Messrate von bis zu 100 kHz. Sie messen Kanten, Durchmesser und Spalten über die Abschattung eines Lichtspaltes. Ein Halbleiterlaser mit sichtbarem roten Licht der Wellenlänge 670 nm erzeugt mit Hilfe einer Optik eine paralleles Laser-Lichtband, durch das die Messobjekte geführt werden. Jede Abschattung durch das Messobjekt wird mit einer Auflösung von mindestens 8 µm erkannt. Messungen sind in Messbereichen von 2 mm bis 30 mm möglich. Über einen 0-10 VDC Analogspannungsausgang wird der Messwert übergeben. Zusätzlich ist ein einstellbarer Grenzwertschalter mit bis zu 60kHz Schaltfrequenz integriert. Anwendungsspezifisch stehen zwei Gehäuse-Varianten mit axialem oder 90° Strahlaustritt zur Verfügung.
