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Automatisiertes Prüfsystem E-LIT
Automatisiertes Prüfsystem E-LIT
Integrationslevel
Zelle
Kostenklasse
auf Anfrage
Anbieter und Produkt
Anbieter:weiter InfraTec GmbH Infrarotsensorik und Messtechnik
Produktfamilie:weiter Thermografie-Prüfanlage zur Elektronik- und Halbleitermodulprüfung
Produktvarianten-Verschlagwortung
weiter Prüftechnik weiter Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung weiter Thermografie weiter Thermografie-Prüfanlagen
Produktbeschreibung
Einsatzbereich
Mit dem automatisierten Thermografie-Prüfsystem E-LIT können kleinste Defekte, wie Punkt- und Linienkurzschlüsse, Oxidations-, Transistor- und Diodenfehler auf einer Leiterplattenoberfläche sowie in Schaltkreisen exakt zweidimensional erkannt und dargestellt werden. Durch eine Veränderung der Lock-In-Frequenz lassen sich Fehler in Stacked-Die-Packages oder Multi-Chip-Modulen sogar räumlich zuordnen.
Produktmerkmale
- Schlüsselfertige Prüfanlage
- Infrarot-Thermografiekameras der ImageIR® 10300, 9400, 8300 hp-Serie, der VarioCAM® HD head 600 oder 800-Serie
- Spektralbereich: (1,5 ... 5,5) µm (ImageIR®-Serie)), (7,5 ... 14) µm (VarioCAM®-Serie)
- Geometrische Auflösung: von (640 x 480) IR-Pixel bis (1.920 x 1.536) IR-Pixel
- Vollbild-Frequenz mit ImageIR® 8300 hs mit bis zu 1004 Hz
- Thermische Empfindlichkeit: bis zu 0,015 K
- Optionale Zusatzsoftware zur parametergesteuerten automatischen Fehlerklassifikation
Anwendungsmöglichkeiten